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簡要描述:上海儀電物光粒度儀顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器,由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。
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上海儀電物光粒度儀顆粒圖像分析儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
????將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器,由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理,具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)。
1、圖像多種處理方法:影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動(dòng)分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測(cè)量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。
上海儀電物光粒度儀顆粒圖像分析儀
儀器型號(hào) | WKL-702 | WKL-708 | |
測(cè)量范圍 | 0.1~3000(微米) | ||
總放大倍數(shù) | 8000倍 | ||
最大分辨率 | 0.1微米/像素 | ||
重復(fù)性 | 誤差≤±1% | ||
自動(dòng)分割速度 | ≤1秒 | ||
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD) | 500萬像素 | ||
數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 | 電腦需另配(i5+8G內(nèi)存+純固態(tài)硬盤或雙硬盤以上配置) | 一體機(jī)(128G固態(tài)硬盤,15寸顯示器) | |
通信接口 | USB | USB/網(wǎng)線/無線網(wǎng) | |
操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10/11系統(tǒng)均可 | 自帶 | |
電源 | AC220V±10%, 50Hz ,200W | ||
儀器尺寸 | 270mm×410mm×440mm | 625mm×420mm×435mm | |
儀器凈重 | 15kg | 25kg |
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